動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀是采用的動(dòng)態(tài)光散射的原理，簡(jiǎn)單來說是通過測(cè)量納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致的顆粒散射光的波動(dòng)來實(shí)現(xiàn)粒徑的檢測(cè)?；驹硎牵盒☆w粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度快使得散射光波動(dòng)快；大顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度慢導(dǎo)致散射光波動(dòng)慢。光電探測(cè)器接收到散射光的波動(dòng)信號(hào)，然后將信號(hào)輸送到儀器內(nèi)的相關(guān)器進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，然后而得到各項(xiàng)測(cè)試結(jié)果。儀器的兩大核心技術(shù)是：
 

　　1、準(zhǔn)確檢測(cè)并記錄其微弱且快速變化的動(dòng)態(tài)散射光信號(hào)。
 

　　2、根據(jù)動(dòng)態(tài)散射光信號(hào)，經(jīng)過復(fù)雜的數(shù)學(xué)模型分析計(jì)算后準(zhǔn)確的解析出相關(guān)的粒度數(shù)據(jù)。
 

　　動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀的核心器件——光電探測(cè)器：
 

　　目前納米粒度儀主流的使用的探測(cè)器有兩種：一是PMT光電倍增管，二是雪崩光電探測(cè)器APD。PMT光電倍增管它是一種真空光電器件(真空管)。它的工作原理是建立在光電效應(yīng)(光電發(fā)射)、二次電子發(fā)射、電子光學(xué)理論基礎(chǔ)上的。PMT光電倍增管已經(jīng)面世多年，其生產(chǎn)工藝及應(yīng)用技術(shù)已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，但是已經(jīng)很難再有更上一層樓的技術(shù)進(jìn)步。它要的優(yōu)點(diǎn)就是技術(shù)成熟，不足之處在于靈敏度稍低和背景電噪聲不穩(wěn)定。
 

　　利用載流子的雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號(hào)以提高檢測(cè)的靈敏度。具備單光子探測(cè)能力，與已經(jīng)廣泛使用的光電倍增管(PMT)相比，APD具有全固態(tài)結(jié)構(gòu)，量子效率高的特點(diǎn)，并可以在高增益下保持良好的信噪比。由于APD是工作在蓋革模式下，單個(gè)門控周期得到的是0和1組成的數(shù)字矩陣，對(duì)微弱光子信號(hào)的長(zhǎng)時(shí)間積分不會(huì)引入熱噪聲，加之其信號(hào)的傳輸不需要經(jīng)過模數(shù)和數(shù)模轉(zhuǎn)換減少了隨機(jī)噪聲等誤差源。